algan材料xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
用 xrd 图来精修出分子结构研究分子的性质, 收集 xrd 时应注意些什么?
强度要高,中等强度的衍射峰强度要达到 5000 计数以上;衍射峰的分辨要尽可能的好;扫描范围要大,大 d 值的峰不能缺失。衍射峰的强度和很多因素有关,比如样品的衍射能力,性质,还有仪器功率,测试方法,检测器的灵敏度等等。
做 xrd 时步长一般为 0.02 度,但是如果要做 rietveld 分析,出了强度要求 500 以上,步长有没有什么要求啊?
一个半峰宽内有 3-5个点就可以了,步长一般为 fwhm 的 0.2-0.3 就可以了。强度要求在10000-20000之间。
3如果用普通的xrd仪器如 brucker d8或者 philips 等测试粉末的 xrd,扫描速度需要多慢才适合用 gsas 等方法作rietveld分析,需要加内标吗?
扫描速度的快慢是根据你的数据强度要求来确定的,如果要做结构精修,中等强度的衍射峰的强度应该在 5000 以上,至于内标是不需要的。
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假如我使用几种强度的表示方法来计算含量呢?
通过x射线衍射分析软件的“寻峰”功能。我们能得到衍射峰的峰高和峰面积,algan材料xrd检测机构,你不妨试试分别通过峰高和峰面积来计算物相的含量,然后再作个平均,也许会比单纯地使用峰高或峰面积来计算结果一些。你会做峰形拟合吗?
x射线衍射峰的线形总是一种“钟罩”形函数,或者说可以使用一种钟罩形函数来拟合。你可以选择不同的峰形函数来做峰的拟合,看看哪个的误差小,说明衍射峰能使用这种函数来拟合。拟合完成后,拟合函数的高度、宽度和面积就会列表出来。
这时,你又得到一组强度数据,分别用高度和面积计算物相含量,会得到怎样的结果呢?当然也可以加入到前面的两种结果中,作一个4个结果的平均。这只是我的建议,并非一定要这么做。当衍射峰没有重叠,没有宽化,没有变形时,4种结果没有多少差别。只有当存在这些因素时,才会出现差别。如果峰形重叠,使用拟合能将重叠峰分离开来,以消除其它物相附加的强度,单纯的寻峰是不能做到这一点的。但是,拟合时要---注意背景线的取舍,拟合得不好可能会产生很大的误差。拟合峰数据用来计算一些粘土矿物的含量时,显得尤为有意义。因为这些物相的峰形往往不对称,矮而宽,吉林algan材料xrd检测,底部拖得---宽,而且多有重叠。单纯的寻峰数据使物相含量的计算结果偏小。不过,用拟合数据计算出来的又往往偏高。两者中和一下,algan材料xrd检测分析,也许与真实的结果差不离了。
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做钴酸锂 xrd 衍射实验时,在 x 衍射仪上做出的衍射图片,algan材料xrd检测多少钱,个衍射峰---高,其他的衍 射峰---低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位---指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验,还是多晶膜等?如果是粉末,那可能就是择优取向了。
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁,xrd 与标准 jcpds 相比衍射峰有规律向左偏移,这表达什么晶体结构的信息啊?
如果各峰的偏移基本上是一个固定值,原因是 2θ零位不正确;样品平面后仰;组成偏离化学式,未知的偏离导致晶格变大了一些。
用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?
xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据(原理上应该用峰的面积数据), 余下的工作便是些乘除比例的运算了,使用表格软件(如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel)完成甚为方便。因此,使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析,当然,有jade 软件更为方便。
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