半导体xrd研究所-陕西半导体xrd检测

半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

(1)每一个物相的衍射强度，这倒不难，半导体xrd检测，我们可以从衍射图上量出来。

(2)每一个物相的k值，这个k从何而来呢？ 这里的k值是这样一个定义：用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀，测量两者的衍射强度之比。

这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关，因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据：i/ic(rir)=yyy。因此，我们也称为rir值，其中i是卡片所列物相的强线的峰高，而ic是刚玉(α-al2o3，corundum)强线的峰高。

我们已经给出了这个方法的标准，就是这么定义的。 这样一来，定量分析就变得如此简单！扫描一遍样品的衍射谱，从图上量出每个物相的衍射峰的峰高，再从pdf卡片上查出每个相的rir值，就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的，事实上，就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人！。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样，因为样品中每一个物相的k值都已经知道，不需要与样品外的打交道。