锂电xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
由于有标法很难用,因此有人就着手研究“无标法”了。这些方法通过理论计算k(就是上式中c的一部分),或者按某种方法直接比强度。由于晶体结构的复杂性,理论计算c的可能性很小,目前实用的大概只有“钢中残留奥氏体的测量”(有)。直接比强度法理论是可行的。但是,也附加了很多种条件。比如,要测的样品中有两个相,需要另外提供一个也含有这样两个相(多一个或少一个都不行),含量又不同于待测样的附加样品。通过理论计算还是可以的。比如还原co粉时,通常都同时存在两种结构的co相(立方和六方)。如果刚好有一批这样的样品,就可能用这种方法来做含量计算,但是,锂电xrd检测多少钱,老天保佑,重庆锂电xrd检测,千万别被氧化了,锂电xrd检测报告,如果样品中还含有氧化钴,麻烦就来了。当然,如果,样品中含有10个相,就得至少提供这样的10个样品。想想,好不容易弄出一个样品来,还要另外去找9个相似的样品(都含有10个相同的相,而且含量不能相同),有可能吗?真不可能! 说了这些困难,也就是为了告诉你一个事实,为什么一般实验室在做物相鉴定时说得头头是道,而你想测物相含量时,他只有两个字回答你:不做!
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(用 x 射线衍射仪)做 x 射线衍射时,一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 x 射线衍射的目的。比如:扫描速度,如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分),如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件,狭缝越小分辨率越高,但强度就会减小,不宜快扫,这又要增---间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描:测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒,如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪,40kv、40ma)。
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如何由xrd 图谱确定所做的样品是准晶结构?xrd 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分?
三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的 xrd 图谱上,如果样品是较好的晶态物质,图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的尖峰(其半高度处的2θ宽度在 0.1°~0.2°左右,这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的小宽度)。如果这些峰明显地变宽,则可以判定 样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm,可以称之为微晶。晶体的 x 射线衍射理论中有一个scherrer公式:
可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
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