xrd残余应力检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd的图谱怎么看?如何简单分析xrd图谱
可以从以下步骤简单分析
1、定性分析(xrd的主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,得知样品是由哪些物质构成的。
2、通过看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度越好。
3、看信噪比,信噪比越高,说明这张xrd图拍得越好,越。
当然,还有许多信息,包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等,但是那个不是简单分析了。
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(1)每一个物相的衍射强度,这倒不难,我们可以从衍射图上量出来。
(2)每一个物相的k值,xrd残余应力检测测试,这个k从何而来呢? 这里的k值是这样一个定义:用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。
这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关,因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据:i/ic(rir)=yyy。因此,我们也称为rir值,其中i是卡片所列物相的强线的峰高,而ic是刚玉(α-al2o3,corundum)强线的峰高。
我们已经给出了这个方法的标准,就是这么定义的。 这样一来,定量分析就变得如此简单!扫描一遍样品的衍射谱,北京xrd残余应力检测,从图上量出每个物相的衍射峰的峰高,xrd残余应力检测费用多少,再从pdf卡片上查出每个相的rir值,就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的,事实上,就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人!。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样,因为样品中每一个物相的k值都已经知道,不需要与样品外的打交道。
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、变通的办法在哪里?
为了得到计算公式里的系数,有人将系数分为两部分:一部分与样品无关,也与仪器无关的常系数。另一部分则与样品及测量条件有关。弄出来一个称为“k值法”东西。
具体方法是:如果要测量样品中的x相,则先用纯的x物质与纯刚玉(α-al2o3)按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比,这个比值称为这个物相x的k值。然后,在要测量的样品中加入一定量的刚玉粉(分数已知),再比这个加了“标样”的样品中待测相x与刚玉的衍射强度比。就能算出x相的含量。这里的麻烦是,为了要测x相的含量,必须得到x相的纯物质。它的计算公式就是ix/is=kxwx/ws。这里的x是要测量含量的物相,s就是称之为标样的东西,也就是刚玉。i,w分别指衍射强度和分数。
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