xrd物相分析检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd的图谱怎么看?如何简单分析xrd图谱
可以从以下步骤简单分析
1、定性分析(xrd的主要功能),通过八强峰匹配标准pdf卡片,xrd物相分析检测平台,得知样品是由哪些物质构成的。
2、通过看峰宽等来分析结晶度,峰越尖锐,结晶度越好。
3、看信噪比,信噪比越高,说明这张xrd图拍得越好,越。
当然,还有许多信息,包括物质晶系、晶胞参数、各物质定量分析、等,但是那个不是简单分析了。
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反复地分析。
jade或者其它相似的软件都存在一个问题,也许不是它本身的问题。也许某次检索出来的卡片与下一次检索出来的卡片会有不同,xrd物相分析检测,也许不同的时候你考虑的方面不同而使你选择了不同的卡片。因此,反复地分析一个样品,你会得出不同的结论。经过多次反复地检索,在多个结论中再作取舍,黑龙江xrd物相分析检测,也许就是真实的结果了。说起来,好象没个完,还有一些东西也是可以用上的,比如颜色。如果检索出来的某个物相的颜色同实际样品的颜色相去甚远,则肯定不是准确的结果。
限于时间,不想耽误大家更多的时间,就说这么些。说到这里,还想说上一句。假如,你有什么样品的衍射谱希望论坛里的同行帮你分析一下,你好告诉一下:
1 样品中可能存在的元素
2 样品中可能存在的物相
你也应当理解:
1 不是你的同行,分析出来的结果当然有可能不对;
2 因为你给的已知条件太少,因此,人家分析不出准确的结果;
3 因为物相的含量低于xrd检出的下限,因此,xrd物相分析检测报告,你希望找出来的那个物相偏偏就是看不到。
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(1)每一个物相的衍射强度,这倒不难,我们可以从衍射图上量出来。
(2)每一个物相的k值,这个k从何而来呢? 这里的k值是这样一个定义:用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。
这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关,因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据:i/ic(rir)=yyy。因此,我们也称为rir值,其中i是卡片所列物相的强线的峰高,而ic是刚玉(α-al2o3,corundum)强线的峰高。
我们已经给出了这个方法的标准,就是这么定义的。 这样一来,定量分析就变得如此简单!扫描一遍样品的衍射谱,从图上量出每个物相的衍射峰的峰高,再从pdf卡片上查出每个相的rir值,就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的,事实上,就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人!。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样,因为样品中每一个物相的k值都已经知道,不需要与样品外的打交道。
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