香港---行政algan材料xrd检测-半导体xrd检测机构

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    2023-3-15

王小姐
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请问知道晶体的结构和晶格参数能模拟它的 x 衍射谱线吗?

xrd 衍射强度和峰的宽度与样品颗粒大小,还是与晶体颗粒大小有关?

样品中晶粒越小,衍射峰的峰高强度越来越低,但是峰越来越宽,algan材料xrd检测分析,实际上利用 x 射线衍射峰的宽化对样品的结晶颗粒度分析就是根据这个原理的(scherrer公式)。

晶粒大小和颗粒大小有关系,但是其各自的含义是有区别的。一颗晶粒也可能就是一颗颗粒,但是更可能的情况是晶粒抱到一起,二次---,algan材料xrd检测,成为颗粒。颗粒不是衍射的基本单位,但是微小的颗粒能产生散射。你磨的越细,散射就越强。对于晶粒, 你磨过头了, 晶体结构被破坏了, 磨成非晶, 衍射能力就没有了。磨得太狠的话,有些峰可能要消失了,而且相邻较近的衍射峰会由于宽化而相互叠加,终会变成1 个或几个鼓包。一般晶面间距大的峰受晶粒细化的影响会明显一些,因d值大的晶面容易被破坏。






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(1)每一个物相的衍射强度,这倒不难,我们可以从衍射图上量出来。

(2)每一个物相的k值,这个k从何而来呢? 这里的k值是这样一个定义:用某种纯物质x与α al2o3按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比。

这里的“衍射强度”被定义为峰的高度(不是面积)。 这个比值称为x物相的k值。这个k值只与物相结构有关,因此可以被写入pdf卡片。现在的电子版pdf卡片上有这样一个数据:i/ic(rir)=yyy。因此,我们也称为rir值,其中i是卡片所列物相的强线的峰高,而ic是刚玉(α-al2o3,corundum)强线的峰高。

我们已经给出了这个方法的标准,就是这么定义的。 这样一来,定量分析就变得如此简单!扫描一遍样品的衍射谱,从图上量出每个物相的衍射峰的峰高,再从pdf卡片上查出每个相的rir值,就可以轻松地计算出全部物相的含量来。 真的,事实上,就是这么简单。你自己就可以做。再也不必求别人!。 这就是所谓的“绝热法”。绝热的意思是不再需要标样,因为样品中每一个物相的k值都已经知道,不需要与样品外的打交道。




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在布鲁克的自带软件中有一个软件叫做topas,能做这方面的工作,但是,真正会用的人可能不是很多。在帕纳科的 xpert highscore里也有一个模块,可以做这个工作。理学电机的仪器使用美国的软件jade。为什么jade里没有这样的模块呢?其实是有的。你看过它的菜单opti里有一个灰色的命令叫做“easy quantitative”(快速定量)的东西吗?有的人安装上jade后,一看这个东西是灰色的,总以为自己的软件来路不正,香港---行政algan材料xrd检测,是不是少了什么。可以说,真的没少什么。因为本来就没有这个东西。我们在买jade 5时就期望这个东西在新版本中变成黑的。但是,买了jade 6以后,这个东西还是灰的。但是,也可以说真的是少了点东西。少了定量这一块。原因就是这一块需要单独购买。因为大家都不买,所有大家都没得用。我不知道为什么大家都不买。我想不是因为大家都象我一样穷,algan材料xrd检测报告,可能的原因是,软件公司先有了菜单,后来想做这个程序,可能原先的想法相当于前面提到的半定量,帕纳科的软件里就有这个东西。但是,后来没有做了,因为技术进步了,形势改变了。现在干脆做成了一个很复杂的东西。这个东西也通过全谱拟合的方法来做定量分析。据说,这个东西的功能很---,但是,要钱买。我没钱,没有买,因此也不知道到底怎么样。据说国内有人买了。不知道用得如何。另外,通过一些非x射线衍射的软件也能做这些工作,很多前辈在期刊上发表过一些。大家可以参考。

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