xrd小角度检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
反复地分析。
jade或者其它相似的软件都存在一个问题,也许不是它本身的问题。也许某次检索出来的卡片与下一次检索出来的卡片会有不同,也许不同的时候你考虑的方面不同而使你选择了不同的卡片。因此,反复地分析一个样品,你会得出不同的结论。经过多次反复地检索,在多个结论中再作取舍,也许就是真实的结果了。说起来,好象没个完,还有一些东西也是可以用上的,比如颜色。如果检索出来的某个物相的颜色同实际样品的颜色相去甚远,青海xrd小角度检测,则肯定不是准确的结果。
限于时间,不想耽误大家更多的时间,就说这么些。说到这里,还想说上一句。假如,你有什么样品的衍射谱希望论坛里的同行帮你分析一下,你好告诉一下:
1 样品中可能存在的元素
2 样品中可能存在的物相
你也应当理解:
1 不是你的同行,xrd小角度检测实验室,分析出来的结果当然有可能不对;
2 因为你给的已知条件太少,因此,人家分析不出准确的结果;
3 因为物相的含量低于xrd检出的下限,因此,你希望找出来的那个物相偏偏就是看不到。
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衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系,因为以前用 rigaku 的 dmax,每次都是几千,但现在用 bruker 或者 philips,好像每次都在一千以下,不知道是什么问题。粉末的结晶肯定是好的。
与发生器的功率有关。你曾使用的 rigaku 的 dmax 是高功率的转靶衍射仪吧?强度也和衍射仪的扫描半径有关。
用国产仪器测的 xrd 数据能不能用于 retrieve 精修?
国产衍射仪的基本技术指标(测角准确度、重现性、分辨率,衍射强度稳定性、长期工作 稳定性等指标)与进口衍射仪并无水平级的差异。配有石墨弯晶单色器的国产衍射仪,正确选择狭缝、采数步宽和步进计数时间(---峰强度),同样能够获得能够用于retrieve精修的衍射数据。
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影响k值的因素有什么?
除了定义上的因素外,还有这么一些问题是要考虑的:
首先,晶粒大小的影响。比如,你在做的是纳米晶粒样品,也套用这个k值,误差会很大。我曾试过一个物相不同晶粒的k值,结果相差有多大,---无法相象,真的差了10倍!这个10倍是要直接用于公式里的分母的。结果会怎么样呢?
其次,化学成份的影响。很多物相都不能算做纯物相,xrd小角度检测价格,比如某种合金的固溶体,某种蒙脱石。虽然,他们的晶体结构大体上还是没有变化,xrd小角度检测服务,但它的k值却变了。据分析,不同成分的固溶体,比如al中可以溶解一些其它元素如zn,mg等,不同固溶度下的al固溶体的k值肯定是不同的。对于合成样品,化学成分的微小差别也会影响k值。不同地域的蒙脱石,其k值可以相差很大。
再次,颗粒度。这里不是说晶粒度,而是说粉末的粒度。也是影响因素之一。
影响k值的还有晶体的结构,原子的占位与掺杂。
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