半导体xrd研究所-xrd小角度检测价格

xrd小角度检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

衍射峰的强度好像和仪器有很大的关系，因为以前用 rigaku 的 dmax，每次都是几千，但现在用 bruker 或者 philips，好像每次都在一千以下，不知道是什么问题。粉末的结晶肯定是好的。

与发生器的功率有关。你曾使用的 rigaku 的 dmax 是高功率的转靶衍射仪吧？强度也和衍射仪的扫描半径有关。

用国产仪器测的 xrd 数据能不能用于 retrieve 精修?

国产衍射仪的基本技术指标（测角准确度、重现性、分辨率，衍射强度稳定性、长期工作 稳定性等指标）与进口衍射仪并无水平级的差异。配有石墨弯晶单色器的国产衍射仪，正确选择狭缝、采数步宽和步进计数时间（---峰强度），同样能够获得能够用于retrieve精修的衍射数据。

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影响k值的因素有什么？

除了定义上的因素外，还有这么一些问题是要考虑的：

首先，晶粒大小的影响。比如，你在做的是纳米晶粒样品，也套用这个k值，误差会很大。我曾试过一个物相不同晶粒的k值，结果相差有多大，---无法相象，真的差了10倍！这个10倍是要直接用于公式里的分母的。结果会怎么样呢？

其次，化学成份的影响。很多物相都不能算做纯物相，xrd小角度检测价格，比如某种合金的固溶体，某种蒙脱石。虽然，他们的晶体结构大体上还是没有变化，xrd小角度检测服务，但它的k值却变了。据分析，不同成分的固溶体，比如al中可以溶解一些其它元素如zn，mg等，不同固溶度下的al固溶体的k值肯定是不同的。对于合成样品，化学成分的微小差别也会影响k值。不同地域的蒙脱石，其k值可以相差很大。

再次，颗粒度。这里不是说晶粒度，而是说粉末的粒度。也是影响因素之一。

影响k值的还有晶体的结构，原子的占位与掺杂。