algan材料xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
我们为什么能利用衍射谱来做物相的含量分析呢?
其原理就是基于物相的含量w与该物相的衍射强度成正比。
可以简单地写成w=ci。w是物相的分数,algan材料xrd检测报告,i是该物相的衍射强度。c是一个系数,但不是一个常系数。不过,在一定条件下它是一个常数。---的是,这个常数通常不能通过理论计算得出,而是需要通过实验来测量。每当实验条件改变(包括样品中的物相种类的改变、任一物相含量的改变、观察峰的改变、甚至于物相产地改变、所用辐射改变、晶粒尺寸改变……如此等等,不一而足)这个系数是变化的。
围绕如何想办法得到这个系数c,历代的---和小师推导出了十几种具体的测量方法。而这些方法又是在某种环境下能使用在另一种环境下不能使用的。每种方法的不同要求等于给实验方法本身加上了一把锁,使得人们不能真正好好地、简便地利用它。
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、变通的办法在哪里?
为了得到计算公式里的系数,有人将系数分为两部分:一部分与样品无关,algan材料xrd检测多少钱,也与仪器无关的常系数。另一部分则与样品及测量条件有关。弄出来一个称为“k值法”东西。
具体方法是:如果要测量样品中的x相,则先用纯的x物质与纯刚玉(α-al2o3)按重量比1:1混合均匀,测量两者的衍射强度之比,这个比值称为这个物相x的k值。然后,在要测量的样品中加入一定量的刚玉粉(分数已知),广西壮族自治algan材料xrd检测,再比这个加了“标样”的样品中待测相x与刚玉的衍射强度比。就能算出x相的含量。这里的麻烦是,为了要测x相的含量,必须得到x相的纯物质。它的计算公式就是ix/is=kxwx/ws。这里的x是要测量含量的物相,s就是称之为标样的东西,也就是刚玉。i,w分别指衍射强度和分数。
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细针状微晶粉末样品做 xrd 重复性很差。(制作粉末衍射样品片)怎么可以避免择优取向?
择优取向是很难避免的,只能尽力减少他的影响。
首先,algan材料xrd检测,你要讲样品磨得尽量细(但要适度,要注意样品的晶体结构不要因研磨过度而受到损坏);
不要在光滑的玻璃板上大---紧(压样时可以在玻璃板上衬一张粗糙的纸张),样品成形尽可能松一些;
制样过程中也可以掺一些玻璃粉,或加一些胶钝化一下样品的棱角。
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