单晶xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,单晶xrd检测实验室,以及行业应用技术开发。
尽管spike退火没有明显的滑移带, 高分辨率的x射线衍射成像图形结果中显示晶圆的边缘也出现了像钻石光源一样形状的成核位置。如图3所示,这些位置大多数处于晶圆边缘。在某些情况下,有非常明显的局部应变,;而另外一些情况下,没有明显的应变区域,。这种成核于晶圆边缘并向内延伸的位错类型呈半环形,黑龙江单晶xrd检测,沿着倾斜的{111}滑移面,依着平行于(100)晶圆表面的四个<011>; 方向,向内部滑移。它们不均匀的分布在晶圆边缘。
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做钴酸锂 xrd 衍射实验时,在 x 衍射仪上做出的衍射图片,个衍射峰---高,其他的衍 射峰---低,不成比例,是仪器本身的原因,还是发生了择优取向,请各位---指点。
不知你是用钴酸锂粉末做的实验,还是多晶膜等?如果是粉末,那可能就是择优取向了。
化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁,xrd 与标准 jcpds 相比衍射峰有规律向左偏移,单晶xrd检测测试,这表达什么晶体结构的信息啊?
如果各峰的偏移基本上是一个固定值,原因是 2θ零位不正确;样品平面后仰;组成偏离化学式,未知的偏离导致晶格变大了一些。
用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?
xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据(原理上应该用峰的面积数据), 余下的工作便是些乘除比例的运算了,使用表格软件(如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel)完成甚为方便。因此,使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析,当然,有jade 软件更为方便。
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xrd测试分析下面通过一些问答形式给讲解物相定量分析的重点知识。
1、为什么不能做物相定量?
样品往往不是单一物相,因此,人们总想了解其中某种相的含量。人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题,我们还是了解一下一张x射线衍射谱图中包含一些什么信息。这些信息主要有三个方面。也是三个方面的应用:
(1)衍射峰的位置
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
(2)衍射峰的峰高或者面积,我们称之为强度
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
(3)衍射峰的形状,单晶xrd检测分析,我们称为线形
这方面的信息又包括两个方面。其一是衍射峰的宽度,我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。另一个则是线的形状,主要是指峰形是否对称,这方面用来计算位错、层错等。不过,后者做的人少,研究也不是很完全,因此应用不是很广泛。
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