algan材料xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
在布鲁克的自带软件中有一个软件叫做topas,能做这方面的工作,但是,真正会用的人可能不是很多。在帕纳科的 xpert highscore里也有一个模块,可以做这个工作。理学电机的仪器使用美国的软件jade。为什么jade里没有这样的模块呢?其实是有的。你看过它的菜单opti里有一个灰色的命令叫做“easy quantitative”(快速定量)的东西吗?有的人安装上jade后,一看这个东西是灰色的,总以为自己的软件来路不正,是不是少了什么。可以说,真的没少什么。因为本来就没有这个东西。我们在买jade 5时就期望这个东西在新版本中变成黑的。但是,买了jade 6以后,这个东西还是灰的。但是,也可以说真的是少了点东西。少了定量这一块。原因就是这一块需要单独购买。因为大家都不买,所有大家都没得用。我不知道为什么大家都不买。我想不是因为大家都象我一样穷,可能的原因是,软件公司先有了菜单,后来想做这个程序,algan材料xrd检测报告,可能原先的想法相当于前面提到的半定量,帕纳科的软件里就有这个东西。但是,algan材料xrd检测实验室,后来没有做了,因为技术进步了,形势改变了。现在干脆做成了一个很复杂的东西。这个东西也通过全谱拟合的方法来做定量分析。据说,这个东西的功能很---,但是,要钱买。我没钱,没有买,因此也不知道到底怎么样。据说国内有人买了。不知道用得如何。另外,通过一些非x射线衍射的软件也能做这些工作,很多前辈在期刊上发表过一些。大家可以参考。
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好有其它分析、测量得到的化学、物理信息要紧的是需要比较---的化学组成分析结果,用来计算出化学式;如有可能,好能测定出样品密度,以便用于计算晶胞内容。可以用专门的仪器测定密度。如果自己手头缺乏密度测定仪器,algan材料xrd检测服务,可以把粉末压片,用千分尺量出样品直径和厚度计算体积,用电子天平测出重量,福建algan材料xrd检测,得到实验测量的密度值(肯定比理论值小,因为有空隙),但比没有数据好多了。
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“衍射强度”实际上的定义是积分强度。
从衍射图上看起来,就是衍射峰的面积。这里定义k值时,却用了衍射峰的高度。它们之间能通用吗? 也许是通用的。但有一个前提条件:所有物相、所有衍射峰的峰形完全相同!主要的是衍射峰的宽度要相同。否则就会存在误差! 因为,衍射峰的面积是高度乘以宽度。仔细的人会发现,简单的面积计算公式是: 面积=峰高乘以半高宽 所谓半高宽就是指衍射峰一半高度处的宽度(fwhm)。 有的人会发现,用这个方法,计算出来的结果误差较大。这就是原因之一。不同的物相,不同的衍射角,衍射峰的宽度是不相同的。当然,如果样品中的物相晶粒都差不多,那么含量计算结果也差不多。 这里说的是差不多,不是说准确。因此,有人称之为“半定量”结果。
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