内蒙古自治xrd掠入射(gixrd)检测-半导体xrd研究所

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xrd掠入射（gixrd）检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd与eds有什么区别

sem，xrd掠入射（gixrd）检测机构，eds，xrd的区别，sem是扫描电镜，eds是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪，是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。xrd是x射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。

sem用于观察标本的表面结构，其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样 品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。

eds的原理是各种元素具有自己的x射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△e，能谱仪就是利用不同元素x射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。

xrd是利用衍射原理，测定物质的晶体结构，织构及应力，的进行物相分析，定性分析，定量分析。

说简单点，xrd掠入射（gixrd）检测报告，sem是用来看微观形貌的，观察表面的形态、断口、微裂纹等等；eds则是检测元素及其分布，但是h元素不能检测；xrd观察的是组织结构，可以测各个相的比例、晶体结构等。