西藏自治xrd晶粒尺寸检测-半导体xrd测试电话

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广角xrd和小角xrd的区别

xrd是x射线衍射仪的简称。其基本原理是:当x射线照射所测物质（晶体），西藏自治xrd晶粒尺寸检测，相应晶面会产生衍射强度。随着发射x射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角xrd一般指3°~80°，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。而小角xrd一般是指0°~3°的测试范围，在该范围内对应的晶面一般是层间，xrd晶粒尺寸检测多少钱，即（00x）晶面，一般用来比较改性物质前后该晶面的层间距变化。

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小角x射线衍射在纳米多层膜材料中，两薄膜层材料反复重叠，形成调制界面。当x射线入射时，周期---的调制界面会与平行薄膜表面的晶面一样，在满足bragg条件时，xrd晶粒尺寸检测服务，产生相干衔射，形成明锐的衍射峰。

由于多层膜的调制周期比金属和化合物的晶面间距大得多，所以只有小周期多层膜调制界面产生的xrd衍射峰可以再小角度衍射时观察到，而大周期多层膜调制界面xrd衍射峰则因其衍射角度更小而无法进行观测。

因此，对制备---的小周期纳米多层膜可以用小角度xrd方法测定其调幅周期。