半导体xrd研究所-四川xrd晶粒尺寸检测

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    2023-5-17

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布拉格定律

当一束具有一定波长λ的x射线照射到多晶体上时,会在一定的衍射角2θ上接收到反射的x射线强度---值(即衍射峰),这便是x射线衍射现象,如图1所示。x射线波长λ、衍射晶面间距d和布拉格角θ之间满足公式(1)。在x射线衍射残余应力分析中,选用合适靶材的x射线管,即选定合适的波长λ,通过衍射装置测定衍射角2θ,就可以计算出相应晶面的晶面间距d。



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●应力常数

?晶体中普遍存在各向---,不同晶向具有不同弹性模量,如果利用平均弹性模量来求解x射线应力常数,势必会产生一定误差。

?对已知材料进行应力测定时,可通过查表获取待测晶面的应力常数。

?对于未知材料,只能通过实验方法测定其应力常数。

3) 数据处理

●采集到---的原始衍射数据后,还必须经过一定的数据处理及计算,终才能获得---的应力数值。

数据处理包括:

?衍射峰形处理

?确定衍射峰位

?应力计算及误差分析

目前计算机已十分普及,许多复杂数学计算都变得容易,给数据处理工作带来方便。




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阴极荧光谱是利用电子束激发半导体样品,将价带电子激发到导带,之后由于导带能量高不稳定,被激发电子又重新跳回价带,并释放出能量e≤eg(能隙)的特征荧光谱。cl谱是一种无损的分析方法,结合扫描电镜可提供与形貌相关的高空间分辨率光谱结果,是纳米结构和体材料的分析工具。利用阴极荧光谱,可以在进行表面形貌分析的同时,研究半导体材料的发光特性,尤其适合于各种半导体肼、线、点等纳米结构的发光性能的研究。

例如,对于氮化镓单晶,由于阴极萤光显微镜具有高的空间分辨率并且具有无损检测的优点,因此将其应用于位错密度的检测已经是行业内广泛采用的方法。目前也制定了相应的标准。



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