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x射线光电子能谱仪以x射线为激发源。辐射固体表面或气体分子,将原子内壳层电子激发电离成光电子,通过分析样品发射出来的具有特征能量的光电子,进而分析样品的表面元素种类、化学状态和电荷分布等信息,是一种无损表面分析技术。
这种技术分析范围较宽,xrd物相分析检测多少钱,原则上可以分析除氢以外的所有元素,但分析---较浅,大约在25~100 ?范围,不过其灵敏度高,安徽xrd物相分析检测,测量精度可达10 nm左右,主要用于分析表面元素组成和化学状态,原子周围的电子密度,---是原子价态及表面原子电子云和能级结构。
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由于材料存在织构,其sin2ψ曲线呈震荡型,选取的ψ角范围不同,得到的拟合直线的斜率和残余应力存在明显差异。在未知材料是否存在织构、晶粒是否粗大的情况下,不可选取较小的ψ范围和较少的ψ站数进行残余应力测定,否则会带来较大的测量误差。
对于sin2ψ曲线呈震荡型的织构材料,采用线性拟合未必是合理的,实际测量过程中,人们通常采用线性拟合的方式对这种震荡和测量误差引起的波动进行处理。关于ψ的范围,大达45°也未必合理,如果可以忽略穿透---的影响,采用的ψ角会更有利于获得较为正确的结果。
对于粗晶粒材料或存在织构的材料而言,尽量扩大ψ角的设置范围,可以通过±ψ角的测量来消除ε-sin2ψ非线性分布的影响。对于小二乘法拟合回归直线而言,xrd物相分析检测实验室,若自变量的间距越大(ψ范围越大),测量的数据越多(ψ站数越多),则拟合所得到的直线的准确度越高,测试得到的数值就越---。也可以通过增加x射线的照射面积,或是采用摆动法增加参与衍射晶粒的数量来提高测试精度。
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残余应力的产生
●残余应力是材料中发生了不均匀的弹性变形或不均匀的弹塑性变形而引起的,或者说是材料的弹性各向---和塑性各向---的反映
●单晶体材料是一个各向---体
●多相多晶体材料在宏观上表现出“伪各向同性”
●在微区,由于晶界的存在和晶粒的不同取向,弹塑性变形总是不均匀的
●冷热变形时沿截面弹塑性变形不均匀
●工件加热、冷却时不同区域的温度分布不均匀,导致热胀冷缩不均匀
●热处理时不均匀的温度分布引起相变过程的不同时性
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