xrd小角度检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
同倾固定ψ0法
每次探测扫描接收反射x射线的过程中,入射角ψ0保持不变选择一系列不同的入射线与试样表面法线之夹角ψ0来进行应力测试工作。
ψ与ψ0之间关系为:
ψ=ψ0+η
η=90°﹣θ
同倾固定ψ0法的ψ0角设置要受到下列---:
ψ0+2η< 90°
*** ψ0<2θ-90°
2η< 90°***2θ>; 90°
同倾固定法
在每次扫描过程中衍射面法线固定在特定ψ角方向上,即保持ψ不变
测试时x=管与探测器等速相向(或相反)而行,每个接收反射x=时刻,相当于固定晶面法线的入射角与反射角相等。通过选择一系列衍射晶面法线与试样表面法线之间夹角ψ,来进行应力测试工作。同倾固定ψ法的ψ角设置要受到下列条件---
ψ+η< 90°***ψ<0
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实验条件
●限定照射面积
?通过狭缝、准直管来---入射光束或通过遮挡的方法来---照射面积
●测点位置设定
?对于一个实际试样,应根据应力分析的要求,结合试样的加工工艺、几何形状、工作状态等综合考虑,确定测点的分布和待测应力的方向。
?校准试样位置和方向的原则为:
(a)测点位置应落在测角仪的回转中心上;
(b)待测应力方向应处于平面以内;
(c)测角仪ψ=0°位置的入射光与衍射光之中线应与待测点表面垂直。
●在常规x射线衍射分析中,xrd小角度检测分析,选择正确的测试参数,目的是获得完整且光滑的衍射谱线。
●x射线应力测试,除满---上要求外,还必须考虑诸如角设置、辐射波长、衍射晶面以及应力常数等因素的影响。
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根据弹性力学的理论,应变εφψ可表示为:式中e及v分别是材料的弹性模量及泊松比:如果x射线沿po方向入射,则εφψ还可表示为垂直于该方向(hkl)晶面间距改变量,根据布拉格方程,这个应变为:式中d0及2θ0分别是材料无应力状态下(hkl)晶面间距及衍射角。两个公式都表示应变εφψ,其中前者代表了宏观应力与应变之间关系,后者则是晶面间距的变化。
二者将宏观应力(应变)与晶体学晶面间距变化结合在一起,从而建立了x射线应力测试的理论基础。由于x射线穿透表面的---很浅,在测试厚度范围内可简化为平面应力问题来处理,xrd小角度检测实验室,此时σz=txz=tyz =0,可对公式进行简化:令前面两个公式相等,广西壮族自治xrd小角度检测,简化后得到:令方位角φ分别为0°、90°及45°时,对上式简化,xrd小角度检测价格,并对sin2ψ求偏导式中k称为x射线弹性常数或x射线应力常数,简称应力常数
这就是平面应力测试的基本公式,利用应力分量σx、σy和txy,实际上已完整地描述了材料表面的应力状态
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