半导体单晶xrd----海南xrd小角度检测

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xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。

工作原理

xrd是一种利用x射线在晶体材料中的衍射效应来分析材料结构的技术。每种晶体材料都有其特定的结构参数，包括晶格类型、晶面间距和其他参数。不同的结构参数导致不同的x射线衍射图案。因此，可以通过测量衍射图案中的衍射角位置（峰值位置）来进行化合物的定性分析，xrd小角度检测费用多少，并且可以通过测量谱线的积分强度（峰值强度）来进行定量分析。

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样品的结构精修是以某一结构为初始值进行修正的。具有步骤如下：

(1) 物相检索，对物相的“初始结构”。

(2) 扣背景和kα2、对图谱作平滑处理。

(3) 物相衍射峰的拟合。如果样品中存在几个物相，则全部衍射峰都要参与拟合。

(4) 选择菜单“opti-cell refinement”命令，开始精修。

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