xrd薄膜检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
样品的结构精修是以某一结构为初始值进行修正的。具有步骤如下:
(1) 物相检索,xrd薄膜检测服务,对物相的“初始结构”。
(2) 扣背景和kα2、对图谱作平滑处理。
(3) 物相衍射峰的拟合。如果样品中存在几个物相,xrd薄膜检测实验室,则全部衍射峰都要参与拟合。
(4) 选择菜单“opti-cell refinement”命令,开始精修。
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应力测量要注意的问题
●材料中织构,内蒙古自治xrd薄膜检测,主要影响应力测试2θ与sin2ψ的线---,影响机制有两种观点:一种观点认为,2θ与sin2ψ的非线性,是由于在形成织构过程中的不均匀塑性变形所致;另一观点则认为,这种非线性与材料中各向---有关,不同方位即ψ角的同族晶---有不同的应力常数k值,从而影响到2θ与sin2ψ 的线---。
●由于理论认识上的局限,使得织构材料x射线应力测试技术一直未获得重大突破。
●目前没有先决条件并具有一定实用意义的方法是,测试高指数的衍射晶面。
●选择高指数晶面,增加了所采集晶粒群的晶粒数目,从而增加了平均化的作用,削弱了择优取向的影响。
●这种方法的缺点是,对于钢材必须采用波长很短的mo-kα线,而且要滤去多余的荧光辐射,所获得的衍射峰强度不---。
●采用单晶应力测试技术,也是解决织构应力测定的有效方法。
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xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰(2θ=26.36和44.32?), 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品,还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰,xrd薄膜检测平台,表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高,衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品,在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比,pan硬碳的衍射角较小,相应的层间距较大,层间距相较于石墨变宽,为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料,其初始容量为343.5 mah g?1,与石墨电极(348.6 mah g–1)的初始容量相等,初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。
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