algan材料xrd检测实验室-半导体xrd检测机构

algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰（2θ=26.36和44.32?)， 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品，还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰，表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高，衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品，在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比，pan硬碳的衍射角较小，相应的层间距较大，层间距相较于石墨变宽，为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料，其初始容量为343.5 mah g?1，江西algan材料xrd检测，与石墨电极（348.6 mah g–1）的初始容量相等，初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多algan材料xrd检测~

algan材料xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，algan材料xrd检测实验室，以及行业应用技术开发。

由pf和go制备的复合材料，go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%，algan材料xrd检测多少钱，分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射（xrd）图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰，石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰，当pf的重量比增---，d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm，略大于天然石墨的d002（0.335nm）。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量，在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后，复合阳极的容量保持率几乎为99%，进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多algan材料xrd检测~