xrd物相分析检测多少钱-半导体研究所(商家)

xrd物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd结晶度的测量方法：

1、纯样法，即把测定的物质的绕射硬度和该性质的百分之i一百的晶态试样(或者百分之i一百非晶态样品，xrd物相分析检测多少钱，原理相同)比较，可以得出该试样的结晶度。

以公式的形式表示则是:xc=ic/i0。

注意：xc为待测样品的结晶度，ic为待测样品的全部衍射峰的积分强度，i0为100%晶态的积分强度

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd物相分析检测~

xrd物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

由pf和go制备的复合材料，go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%，分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射（xrd）图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰，石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰，当pf的重量比增---，d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm，略大于天然石墨的d002（0.335nm）。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量，在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后，复合阳极的容量保持率几乎为99%，进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多xrd物相分析检测~