xrd摇摆曲线检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
原位xrd的测试可以在短时间内得到大量可对比信息,由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试,xrd摇摆曲线检测平台,因此得到的信息(无论是晶胞参数还是峰强度,还是其他的参数)都是具有相对可比性的。
而非原位xrd得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高,比如,极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态,材料测试的会产生高低变化,测到的xrd的峰会发生偏移,相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化;而不同极片活性材料和分布必然存在不同,这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。
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xrd结晶度的测量方法:
1、纯样法,即把测定的物质的绕射硬度和该性质的百分之i一百的晶态试样(或者百分之i一百非晶态样品,原理相同)比较,可以得出该试样的结晶度。
以公式的形式表示则是:xc=ic/i0。
注意:xc为待测样品的结晶度,ic为待测样品的全部衍射峰的积分强度,i0为100%晶态的积分强度
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x射线衍射仪的使用方法
(a)装填样品
按下衍射仪面板上的door按钮,指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声,缓慢的向右拉开衍射仪保护门。
将样品表面朝上安装到样品台上,此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。
向左轻拉右侧门,两门自动吸住后报警声停止。
(b)设置仪器参数
---桌面right measurement system图标,进入到软件控制界面
双击condition下面的1,进入到测量条件的设置界面,xrd摇摆曲线检测多少钱,根据所测试样品要求,设置start angle(起始角)、stop angle(终止角)、scan speed(扫描速度)等参数(注意:一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改)
条件设置好以后,关闭条件设置界面,返回主界面(注意:在设置参数的时候,xrd的起始角一般是大于3°,终止角小于140°,否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件,使测角仪受到损坏。)
---browse按钮,进入到保存文件对话框,内蒙古自治xrd摇摆曲线检测,设置文件保存位置和样品名称后,返回主界面
(c)开始测试
在主界面上---executement,系统开始调整kv、ma值,此时弹出新的测量窗口,直到测量完成,测量数据自动保存在所设置为保存位置。
(d)数据存盘
一般为了防止u盘存在---,拷取实验数据需要光盘,xrd摇摆曲线检测报告,下面是一个光盘流程
(e)关闭系统
在测试的时候根据实际情况,如果后面仍有学需要测试,在完成自己样品测试后,将自己的样品取出即可。如果没有人测试,则按照下面的流程来关闭x射线
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