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由pf和go制备的复合材料,go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%,分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射(xrd)图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰,石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰,当pf的重量比增---,d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm,略大于天然石墨的d002(0.335nm)。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量,在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后,---行政xrd倒易空间(rsm)检测,复合阳极的容量保持率几乎为99%,进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。
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常见问题
q1、粉末样品量过少会有什么样的影响?
答:因为粉末样品要铺满整个样品台,样品量过少可能导致x射线打在样品台上,从而影响数据。
q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?
答:样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关,结晶度越好,衍射峰越明显,其次才是样品量和仪器功率。
q3、步长和扫描速度有何关联?扫描速度对样品的测量有何影响?
答:步长决定了扫描的精细程度,扫描速度是由步长和每步的时间决定的,xrd倒易空间(rsm)检测分析,每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长,步长越小,则谱越精细,信噪比越高,可用于定量计算,如xrd精修等。
q4、xrd定量的度如何?
答:xrd为半定量分析,定量测试结果度有限,仅供参考。
q5、为何有些样品的测试结果基线较高?能否---?
答:有荧光散射现象的样品,如铁含量较高的样品,测试结果会出现基线较高的情况,这是无法---的。
q6、cu靶的波长是多少?
答:kα1=1.540538埃。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射(如各狭缝光阑边缘的散射,光路上其它金属附件的散射)进入检测器,有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝,xrd倒易空间(rsm)检测费用多少,它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当,可以得到低的背底,而衍射线强度的降低不超过2%。如果衍射线强度损失太多,则应改较宽的防散射狭缝。
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