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单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，单晶xrd检测价格，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射（如各狭缝光阑边缘的散射，光路上其它金属附件的散射）进入检测器，有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝，它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当，可以得到低的背底，而衍射线强度的降低不超过2％。如果衍射线强度损失太多，则应改较宽的防散射狭缝。

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原位xrd的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位测试的整个过程是对同一个材料的同一个位置的测试，因此得到的信息（无论是晶胞参数还是峰强度，单晶xrd检测平台，还是其他的参数）都是具有相对可比性的。

而非原位xrd得到的信息相对可比性较差且对测试过程中的操作要求较高，比如，极片拆卸洗涤后如果极片处于褶皱状态，海南单晶xrd检测，材料测试的会产生高低变化，测到的xrd的峰会发生偏移，相应的精修得到的晶胞参数也会有所变化；而不同极片活性材料和分布必然存在不同，这也必然导致不同充放电状态下的峰强可比性是比较差的。

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