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通常称为晶块尺寸或晶粒尺寸。计算晶块尺寸时,一般采用低角度的衍射线。但是,如果晶块尺寸较大,可用较高衍射角的衍射线。
使用谢乐公式计算晶粒尺寸时,半导体xrd检测多少钱,若晶粒尺寸在30nm左右,计算结果较为准确。此公式适用范围为size<100nm。判断一个样品是否存在晶粒细化的依据是:衍射峰宽化与衍射角的余弦成反比。
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