单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,上海单晶xrd检测,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
常见问题
q1、粉末样品量过少会有什么样的影响?
答:因为粉末样品要铺满整个样品台,样品量过少可能导致x射线打在样品台上,从而影响数据。
q2、为什么部分样品的测试结果中衍射峰强度较低,甚至没有明显的衍射峰?
答:样品的衍射峰强度主要跟自身结晶度有关,结晶度越好,衍射峰越明显,其次才是样品量和仪器功率。
q3、步长和扫描速度有何关联?扫描速度对样品的测量有何影响?
答:步长决定了扫描的精细程度,扫描速度是由步长和每步的时间决定的,每步的时间长短会影响衍射峰的强度和信噪比。每步的时间越长,步长越小,则谱越精细,信噪比越高,可用于定量计算,如xrd精修等。
q4、xrd定量的度如何?
答:xrd为半定量分析,定量测试结果度有限,仅供参考。
q5、为何有些样品的测试结果基线较高?能否---?
答:有荧光散射现象的样品,如铁含量较高的样品,测试结果会出现基线较高的情况,这是无法---的。
q6、cu靶的波长是多少?
答:kα1=1.540538埃。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
sollar狭缝测角仪上一组平行薄金属片光阑,由一组平行等间距的、平面与射线源焦线垂直的金属薄片组成,用来---x射线在测角仪轴向方向的发散,使x射线束可以近似的看作仅在扫描圆平面上发散的发散束。
脉冲计数率在衍射仪方法中,单晶xrd检测,x射线的强度用脉冲计数率表示,单位为每秒脉冲数(cps)。检测器在单位时间输出的平均脉冲数,直接决定于检测器在单位时间接收的光子数。如果检测器的效率为100%,而系统(放大器和脉冲幅度分析器等)又没有计数损失(漏计),那么每秒脉冲数便是每秒光子数。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
位敏正比检测器衍射仪位敏正比检测器(pspc)是一种新型射线检测器。它不仅能进行粒子计数测量,而且通过与它配合的一套时间分析系统能够同时得到粒子进入检测器窗口的位置坐标。因此用pspc进行测量可以获得如用感光软片进行记录时同样丰富的信息。pspc得到的信息直接实时地由计算机系统进行处理,能立即得到实验结果。应用pspc已经成功地发展了一种新型的衍射仪——pspc衍射仪,单晶xrd检测机构,它能对整个可测量范围内的衍射进行同时记录,是一种高速多晶衍射设备,---适用于---动态过程的衍射研究。
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