大功率xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,大功率xrd检测,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰(2θ=26.36和44.32?),大功率xrd检测报告, 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品,还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰,表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高,衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品,在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比,pan硬碳的衍射角较小,相应的层间距较大,层间距相较于石墨变宽,为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料,其初始容量为343.5 mah g?1,与石墨电极(348.6 mah g–1)的初始容量相等,初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
sollar狭缝测角仪上一组平行薄金属片光阑,由一组平行等间距的、平面与射线源焦线垂直的金属薄片组成,大功率xrd检测服务,用来---x射线在测角仪轴向方向的发散,使x射线束可以近似的看作仅在扫描圆平面上发散的发散束。
脉冲计数率在衍射仪方法中,x射线的强度用脉冲计数率表示,单位为每秒脉冲数(cps)。检测器在单位时间输出的平均脉冲数,直接决定于检测器在单位时间接收的光子数。如果检测器的效率为100%,而系统(放大器和脉冲幅度分析器等)又没有计数损失(漏计),那么每秒脉冲数便是每秒光子数。
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xrd常用于测试金属、非金属、无机材料和有一定结晶的高分子材料的物相分析。
工作原理
xrd是一种利用x射线在晶体材料中的衍射效应来分析材料结构的技术。每种晶体材料都有其特定的结构参数,包括晶格类型、晶面间距和其他参数。不同的结构参数导致不同的x射线衍射图案。因此,可以通过测量衍射图案中的衍射角位置(峰值位置)来进行化合物的定性分析,并且可以通过测量谱线的积分强度(峰值强度)来进行定量分析。
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