单晶xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,北京单晶xrd检测,以及行业应用技术开发。
x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
粉末衍射仪
粉末衍射仪是目前研究粉末的x射线衍射常用而又方便的设备。它的光路系统设计采用---光束型的衍射几何,一般使用普通的nai(tl)闪烁检测器或正比计数管检测器以电子学方法进行衍射强度的测量;衍射角的测量则通过一台精密的机械测角仪来实现。
测角仪
是粉末衍射仪上精密的机械部件,用来测量衍射角。
发散狭缝
测角仪上用来---发散光束的宽度。发散狭缝的宽度决定了入射x射线束在扫描平面上的发散角。
接收狭缝
测角仪上用来---所接收的衍射光束的宽度。接收狭缝是为了---待测角度位置附近区域之外的x射线进入检测器,它的宽度对衍射仪的分辨能力、线的强度以及峰高/背底比有着重要的影响作用。
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xrd即x-ray diffraction(x射线衍射)的缩写,是研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法,也是科研人常用的材料表征方法之一。通过对材料进行x射线衍射,单晶xrd检测,不但可测定材料的物相和晶体结构,还可以进行单晶分析、结构分析、测定微晶尺寸、宏观及微观应力等。xrd的应用范围非常广泛,现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中,成为一种重要的实验方法和结构分析手段,具有无损试样的优点。为了让各位小伙伴了解 xrd 的分析方法和应用,我们在此倾心整理并推出“xrd全家福”,内容包括xrd理论篇、制样篇、操作篇、软件篇、分析篇和干货篇,单晶xrd检测报告,共6部分。为广大读者奉上全的xrd---课件、工具书、视频课程、制样流程、上机操作、分析软件、干货教程等,助你快速成为xrd达人。
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jade将衍射峰宽度大于3°的峰为非晶峰。通过衍射图谱的拟合,可以直接得到样品的结晶度。
在计算结晶度时,同一系列的样品,应当选择相同的衍射角范围。
正确地分离晶相峰和非晶峰往往比较困难,比较容易实现的方法是只用jade的“手动拟合”命令,而不使用自动拟合命令。拟合过程中,拟合的好坏并不能真实地从“r值”上表现出来,而应当仔细观察“误差放大线”的水平程度和光滑程度,越平越越光滑表明拟合得越好。不断地在不平直和不光滑的位置加入新的峰并进行拟合,终将得到一条拟合佳的曲线。
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