半导体xrd测试机构-xrd晶粒尺寸检测多少钱

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，xrd晶粒尺寸检测多少钱，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

结构精修通常分为两个步骤：先通过标准样品的测量，校正仪器精度；然后通过被测样品的峰位进行晶胞参数的修正。

仪器角度校正

选用标准硅样品，用与被测样品相同的实验条件测量标准样品的全谱。校正仪器角度误差。具有步骤为：

(1) 对标准样品的衍射谱进行物相检索、扣背景和kα2、平滑、全谱拟合后，选择菜单“---yze-theta calibration  f5”命令，在打开的对话框中单击calibrate，显示出仪器的角度补正曲线(即仪器角度误差随衍射角的变化曲线)。

(2) 单击“save curve”命令，将当前角度补正曲线保存起来。

(3) 选中“calibrate patterns on loading automatically”。这样，当被测样品的衍射图谱调入时jade自动作角度补正(仪器角度误差校正)。

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电子衍射和 xrd的区别

电子衍射是二维衍射和 xrd 是一维衍射，电子衍射和xrd的基本原理和衍射花样的几何特征相似，而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。两者区别包括：

(1) 电子波的波长短，则受物质散射强（原子对电子的散射能比 x 射线强一万倍）；

(2) 电子衍射强度大，要考虑它们之间的相互作用，重庆xrd晶粒尺寸检测，使电子衍射花样分析，---是强度分析变得复杂，不能像 x射线一样从测量强度来广泛地测定晶体结构；

(3) 由于电子衍射强度高导---子穿透能力有限，因此较使用于研究微晶、表面和薄膜晶体；

(4) 当晶粒大小只有几微米，甚至几千埃的时候，不建议用 xrd 。

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