xrd物相分析检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
xrd测试分析下面通过一些问答形式给讲解物相定量分析的重点知识。
1、为什么不能做物相定量？
样品往往不是单一物相，因此，人们总想了解其中某种相的含量。人们的理解总是认为哪怕只是一种近似的结果也比没有结果要好。
为了要说明定量分析的问题，我们还是了解一下一张x射线衍射谱图中包含一些什么信息。这些信息主要有三个方面。也是三个方面的应用：
（1）衍射峰的位置
这方面的信息主要用于物相的鉴定、晶胞参数的精修、残余应力的测量。
（2）衍射峰的峰高或者面积，我们称之为强度
这方面的信息主要用于物相的含量、结晶度以及织构的计算。
（3）衍射峰的形状，我们称为线形
这方面的信息又包括两个方面。其一是衍射峰的宽度，我们可以用来计算亚晶尺寸的大小(常被称为晶粒大小)和微观应变的计算。另一个则是线的形状，主要是指峰形是否对称，这方面用来计算位错、层错等。不过，后者做的人少，研究也不是很完全，因此应用不是很广泛。
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首先，x射线衍射方法只能证明一个物相的存在，而不能证明一个物相的不存在。
这是因为，x射线衍射强度是一个样品表面信息的统计结果。当一个物相的含量低于某一下限值（1%-10%左右，xrd物相分析检测实验室，不同物相不同）时，xrd方法是不能检定一个物相的存在的。因此，广东xrd物相分析检测，如果你还想问“我的样品中有0.3%的zr，为什么在om，xrd物相分析检测，tem或sem中可以看到它的存在，为什么用xrd做不出来呢？”这样的问题，说明你对xrd还不了解。
其次，并不是有了jade就能一定分析出是什么物相。
jade是一个pdf卡片的检索程序，通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但，这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相，因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候，jade就---为力了。这时，你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。
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常用的xrd分析软件有4种：
1.dfwin?有人认为是原始的了。它是在衍射图谱标定以后，按照d值检索。一般可以有限定元素、按照三强线、结---等方法。所检索出的卡片多时候不对。一张复杂的衍射谱有时候---也搞不定。
2.search?m---h?可以实现和原始实验数据的直接对接，可以自动或手动标定衍射峰的位置，对于一般的图都能---的。而且有几个小工具使用很方便。如放大功能、十字定位线、坐标指示按钮、网格线条等。重要的是它有自动检索功能。可以帮你很方便的检索出你要找的物相。也可以进行各种限定以缩小检索范围。如果你对于你的材料较为熟悉的话，对于一张含有4，5相的图谱，检索也就3分钟。效率---。而且它还有自动生成实验报告的功能！
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