半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
这些方法主要包括两方面: 一种是需要标样的称为“有标法”。也就是说,除了要测的样品,需要往样品中加入某种纯物质。而这些个纯物质往往是不易求得的。
比如,某人在合成一种新物质,总是发现合成物中有各种各样的杂质,他希望计算一下不同条件下这种新物质的含量。实验方法要求他提供这种新物质的纯样品。而实际情况是,他如果得到了这种新物质的纯样品也就是他合成成功的那---,他还需要你来算个什么含量呢?
再举个例子,一位包工头发现,建的房子老是倒了,地基不行。因为地基里有含量---的蒙脱土一下雨就膨胀,房子就会倒。他需要了解这种土里的蒙脱土含量到底有多少,他便可以通过改性的办法来解决问题。虽然,要得到蒙脱土的纯物质对某些人来说(一般实验室还是很难的)还是可以的,通过离心等一些方法可以得到。但是,得到的纯物质也许与原样品中的该物质结构发生某些变化。这样虽然得到了纯物质,但是,由于结构的变化,使c也变了。计算出来的结果还是不准。而且,当实验员告诉包工头,虽然我们可以做,但是一则计算结果可能不是---确。二则经费需要很多时,包工头只能摇摇头,摆摆手,安徽半导体xrd检测,说声bbyebye了。
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已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的 hkl 值,请问如何确定其空间群,有没有相应的软件?
有了这些就可以用shelx来解晶体了,空间群自然也就能确定了。可以用国际晶体学手册, 利用你的已知数据便可查的。未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的,半导体xrd检测,终的结果还要用结构测定的结果来确定,半导体xrd检测分析,统计消光规律来推测空间群的软件有 xprep,wingx 等。
具体可以如下操作:衍射数据当作p1空间群处理然后利用pattern 程序生成 psudo-precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。不是所有的时候都可以直接给出终的空间群。好在解完结构之后,利用结构解析程序产生的fcf文件再重新核对一遍。
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“衍射强度”实际上的定义是积分强度。
从衍射图上看起来,就是衍射峰的面积。这里定义k值时,却用了衍射峰的高度。它们之间能通用吗? 也许是通用的。但有一个前提条件:所有物相、所有衍射峰的峰形完全相同!主要的是衍射峰的宽度要相同。否则就会存在误差! 因为,衍射峰的面积是高度乘以宽度。仔细的人会发现,简单的面积计算公式是: 面积=峰高乘以半高宽 所谓半高宽就是指衍射峰一半高度处的宽度(fwhm)。 有的人会发现,用这个方法,计算出来的结果误差较大。这就是原因之一。不同的物相,不同的衍射角,衍射峰的宽度是不相同的。当然,如果样品中的物相晶粒都差不多,那么含量计算结果也差不多。 这里说的是差不多,不是说准确。因此,有人称之为“半定量”结果。
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