贵州半导体xrd检测-半导体xrd检测服务-半导体研究所

半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

薄膜应力作为半导体制程、mems微纳加工、光电薄膜镀膜过程中性能测试的必检项，其测试的精度、重复性、效率等因素为业界所重点关注。对应产品目前业界有两种主流技术流派：1）以美国fsm、kla、toho为代表的双激光波长扫描技术（线扫模式），尽管是上世纪90年代技术，但由于其简单，适合常规fab制程中进行快速qc，至今仍广泛应用于相关工厂。2）以美国ksa为代表的mos激光点阵技术，抗环境振动干扰，精于局部区域内应力测量，这在研究局部薄膜应力均匀分布具有特定意义。线扫模式主要测量晶圆薄膜整体平均应力，监控工序工艺的重复性有意义。但在监控或精细分析局部薄膜应力，激光点阵技术具有特殊优势，比如在mems压电薄膜的应力和缺陷监控。

欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~半导体xrd检测

半导体xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

做钴酸锂 xrd 衍射实验时，在 x 衍射仪上做出的衍射图片，个衍射峰---高，其他的衍 射峰---低，不成比例，是仪器本身的原因，还是发生了择优取向，请各位---指点。

不知你是用钴酸锂粉末做的实验，贵州半导体xrd检测，还是多晶膜等？如果是粉末，那可能就是择优取向了。

化学沉淀法从氨氮废水中结晶出磷酸铵镁，xrd 与标准 jcpds 相比衍射峰有规律向左偏移，这表达什么晶体结构的信息啊？

如果各峰的偏移基本上是一个固定值，原因是 2θ零位不正确；样品平面后仰；组成偏离化学式，未知的偏离导致晶格变大了一些。

 用 jade5 软件可以进行 xrd 定量分析吗?

xrd定量分析的基础数据是样品中各组成物相的强度数据（原理上应该用峰的面积数据）， 余下的工作便是些乘除比例的运算了，使用表格软件（如 wps ofice 的wps 表格、微软的excel）完成甚为方便。因此，使用任一能够获得峰面积或峰高的软件工具都可以进行xrd定量分析，当然，有jade 软件更为方便。