xrd掠入射(gixrd)检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
工艺检测的目的不只是搜集数据,更重要的是要把不断产生的大量检测数据及时整理分析,不断揭示生产过程中存在的问题,向工艺控制反馈,使之不致偏离正常的控制条件。因而对大量检测数据的科学管理,---其能够得到准确和及时的处理,是半导体工艺检测中的一项重要关键。同时半导体检测也涉及大量的科学仪器,xrd掠入射(gixrd)检测,针对于此,对一些半导体检测的仪器进行介绍。
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还有人想出另一个点子,通过“极密度”来计算原来强峰(因为存在择优取向变得不强了)应当有的强度。这个方法虽然说起来简单,但操作起来比较麻烦。实验时要采用较短波长的x射线,尽可能多地测量到物相的衍射线数。如果把计算方法编写成程序,就会变得简单一些。这不是一般科研---所要做的事情。甚至有些人连极密度是什么东西都不了解,怎么去做这个工作呢?(实在想知道,可以参考写有“织构”内容的x射线衍射教材)。办法总是人想出来的,你也可以参考相关的文献,想出自己的办法来。虽然,不管使用什么办法,都很难得到真正的结果,但总比不作任何处理要好一些。
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已经知道晶体的晶格常数、晶系以及各衍射峰的 hkl 值,请问如何确定其空间群,有没有相应的软件?
有了这些就可以用shelx来解晶体了,空间群自然也就能确定了。可以用国际晶体学手册,xrd掠入射(gixrd)检测哪里可以做, 利用你的已知数据便可查的。未知物质的空间群是根据统计消光规律来得到的,广西壮族自治xrd掠入射(gixrd)检测,终的结果还要用结构测定的结果来确定,统计消光规律来推测空间群的软件有 xprep,wingx 等。
具体可以如下操作:衍射数据当作p1空间群处理然后利用pattern 程序生成 psudo-precession然后根据系统消光规律推导出晶体的劳埃对称性。不是所有的时候都可以直接给出终的空间群。好在解完结构之后,利用结构解析程序产生的fcf文件再重新核对一遍。
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