xrd掠入射（gixrd）检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，xrd掠入射（gixrd）检测，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，xrd掠入射（gixrd）检测机构，以及行业应用技术开发。
有没有---的办法？
历史在前进，技术在进步。60年代就有人(riteveld)提出用“全谱拟合”的思想。所谓全谱拟合，就是用一个假想的函数来拟合实测的衍射谱。通过一步一步地迭代，使假想函数与实测线形的差别达到可能的小值。
这个过程中，首先要输入的是样品中每个物相的晶体结构，通常需要精细的晶体结构，包括原子位置等等。考虑的因素也很多，比如晶格畸变、微观应变、原子错位等等。一步一步地进行，总会得到一个终的值。
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如何由xrd 图谱确定所做的样品是准晶结构？xrd 图谱中非晶、准晶和晶体的结构怎么严格区分？
三者并无严格明晰的分界。
在衍射仪获得的 xrd 图谱上，如果样品是较好的晶态物质，图谱的特征是有若干或许多个一般是彼此独立的很窄的尖峰（其半高度处的2θ宽度在 0.1°~0.2°左右，这一宽度可以视为由实验条件决定的晶体衍射峰的小宽度）。如果这些峰明显地变宽，则可以判定 样品中的晶体的颗粒尺寸将小于 300nm，可以称之为微晶。晶体的 x 射线衍射理论中有一个scherrer公式:
可以根据谱线变宽的量估算晶粒在该衍射方向上的厚度。
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(用 x 射线衍射仪)做 x 射线衍射时，一些(仪器)参数对谱线有什么影响?
如何选择仪器参数主要取决于做 x 射线衍射的目的。比如：扫描速度，如果是一般鉴定就可以取快一些(4-8 度/分)，如果是精修晶胞参数就要扫慢一些;狭缝条件，狭缝越小分辨率越高，但强度就会减小，不宜快扫，西藏自治xrd掠入射（gixrd）检测，这又要增---间。
还要根据的样品的衍射能力、结晶 度等因素来定。如果是步进扫描：测定晶胞参数可以取每个步进度 1-30 秒，如果做结构精 测 30 秒到数分钟不等(对于普通功率的衍射仪，40kv、40ma)。
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半导体薄膜测试机构-西藏自治xrd掠入射（gixrd）检测由广东省科学院半导体研究所提供。广东省科学院半导体研究所位于广州市天河区长兴路363号。在市场经济的浪潮中拼博和发展，目前半导体研究所在技术合作中享有---的声誉。半导体研究所取得---商盟，标志着我们的服务和管理水平达到了一个新的高度。半导体研究所全体员工愿与各界有识之士共同发展，共创美好未来。
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