algan材料xrd检测半导体xrd检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,algan材料xrd检测多少钱,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,algan材料xrd检测分析,以及行业应用技术开发。
xrd 峰整体向右偏移是什么原因造成的?
可能是离子半径小的元素取代了离子半径大的元素。
也可能是你制样时,样品表面高出了样品座平面或者仪器的零点不准造成的,建议你---标样来修正你的数据。
把样品靠后放置,使样品偏离测角仪中轴大概有 1mm,请问衍射峰会怎么变化?
峰位移向低角度。样品表面偏离测角仪转轴 0.1mm,衍射角的测量将产生约 0.05度(2θ)的误差(对 cu 靶,在 2θ 20度附近的位置)。
影响仪器测量结果的分辨率仅仅取决于θ吗?
影响仪器测量结果的分辨率的因素是多方面的:测角仪的半径;x 射线源的焦斑尺寸;光学系统的各种狭缝的尺寸;仪器调整情况(2:1 关系);采数步宽;样品定位情况等。
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椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高,适用于超薄膜,与样品非接触,对样品没有破坏且不需要真空,使得椭偏仪成为一种---吸引力的测量仪器。
目前,椭偏仪是测量透明、半透明薄膜厚度的主流方法,它采用偏振光源发射激光,当光在样本中发生反射时,会产生椭圆的偏振。椭偏仪通过测量反射得到的椭圆偏振,并结合已知的输入值计算出薄膜的厚度,是一种非破坏性、非接触的光学薄膜厚度测试技术。在晶圆加工中的注入、刻蚀和平坦化等一些需要实时测试的加工步骤内,椭偏仪可以直接被集成到工艺设备上,以此确定工艺中膜厚的加工终点。
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一个峰能表达一个物相强度吗?
上面说到,一般使用物相强峰的峰高或者面积来表示这个物相的衍射强度。但是,真的对这样表示吗?如果你的样品是粉末,那么你知道粉末样品是什么形状的吗?
假如是完状的,那么,无论你怎么制备样品,结果都是无任何择优取向的。因此,algan材料xrd检测价格,用一个峰的强度就可以表述一个物相的强度。---的是,没有几种粉末是真正球状的。更多的是其它形状。
比如,石墨往往是片状的,有些虽然不是片状的,但也是有棱有角的,或者你可以将它们---为长方体,三角形等等。试想想,如果在样品的压片过程中,有人为的因素,比如抖动一下,结果会怎么样呢?粉末的排列是不是还会是完全无序的呢?肯定不是,它们总是会朝着“整齐”的姿态排列。这就是我们的不幸,因为粉末颗粒排列得越整齐,也就是它们越有序,越是我们所不期望的。
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