algan材料xrd检测xrd残余应力检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
x射线衍射技术(xrd)在建筑材料检测中的应用
样品要求x射线衍射技术适用于多种类型产品的检测,送检样品可为粉末状、块状、薄膜、镀膜及其它形状。样品种类不同,algan材料xrd检测费用多少,具体要求也有所区别:
粉末样品需要量约为2g以上(视其密度和衍射能力而定),送检粉末样品需预先干燥并研磨至大于200目;
块状和薄膜样品要求宽度不小于1.5cm、厚度不大于0.5cm近似平面试样;
对于测量金属样品的微观应力(晶格畸变),测量残余奥氏体,要求制备成金相样品,并进行普通抛光或电解抛光,algan材料xrd检测报告,消除表面应变层;
若样品在空气中不稳定,algan材料xrd检测,会吸湿、风化、分解,则需采取保护隔离措施,若试样、、有毒,则应采取相应的防护措施。
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由于材料存在织构,其sin2ψ曲线呈震荡型,选取的ψ角范围不同,得到的拟合直线的斜率和残余应力存在明显差异。在未知材料是否存在织构、晶粒是否粗大的情况下,不可选取较小的ψ范围和较少的ψ站数进行残余应力测定,否则会带来较大的测量误差。
对于sin2ψ曲线呈震荡型的织构材料,采用线性拟合未必是合理的,实际测量过程中,人们通常采用线性拟合的方式对这种震荡和测量误差引起的波动进行处理。关于ψ的范围,大达45°也未必合理,如果可以忽略穿透---的影响,采用的ψ角会更有利于获得较为正确的结果。
对于粗晶粒材料或存在织构的材料而言,尽量扩大ψ角的设置范围,可以通过±ψ角的测量来消除ε-sin2ψ非线性分布的影响。对于小二乘法拟合回归直线而言,若自变量的间距越大(ψ范围越大),江苏algan材料xrd检测,测量的数据越多(ψ站数越多),则拟合所得到的直线的准确度越高,测试得到的数值就越---。也可以通过增加x射线的照射面积,或是采用摆动法增加参与衍射晶粒的数量来提高测试精度。
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布拉格定律
当一束具有一定波长λ的x射线照射到多晶体上时,会在一定的衍射角2θ上接收到反射的x射线强度---值(即衍射峰),这便是x射线衍射现象,如图1所示。x射线波长λ、衍射晶面间距d和布拉格角θ之间满足公式(1)。在x射线衍射残余应力分析中,选用合适靶材的x射线管,即选定合适的波长λ,通过衍射装置测定衍射角2θ,就可以计算出相应晶面的晶面间距d。
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