xrd晶粒尺寸检测测试-半导体xrd测试电话

xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

防散射狭缝测角仪上用来防止一些附加散射（如各狭缝光阑边缘的散射，光路上其它金属附件的散射）进入检测器，xrd晶粒尺寸检测机构，有助于减低背景。防散射狭缝是光路中的辅助狭缝，它能---由于不同原因产生的附加散射进入检测器。例如光路中空气的散射、狭缝边缘的散射、样品框的散射等等。此狭缝如果选用得当，可以得到低的背底，而衍射线强度的降低不超过2％。如果衍射线强度损失太多，则应改较宽的防散射狭缝。

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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释

能量分辨

是指检测器接收某一能量的（某---长射线的光），所输出脉冲信号的平均幅度与入射的能量成正比的特性。

闪烁检测器是各种晶体x射线衍射工作中通用性能好的检测器。它的主要优点是：对于晶体x射线衍射使用的x射线均具有---甚至达到100%的效率；使用---，稳定性好；此外，它和pc一样，具有很短的分辨时间（10-7秒数量级），因而实际上不必考虑由于检测器本身的---所带来的计数损失；它和pc一样，对晶体衍射工作使用的软x射线也有一定的能量分辨本领。因此通常x射线粉末衍射仪配用的是闪烁检测器。

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