xrd物相分析检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
微区xrd可以测试某个区域的xrd谱图,但是测试区域需要大于等于0.5 mm,不能太小。另外测试角度范围默认是5-90 °,其他角度需要先和老师沟通后再做决定。比如需要测试块体样品(尺寸要求是长宽一般1-2 cm,厚度不超过5 mm)上面某一个或一些小区域的xrd,就可以用微区xrd来测试。
微区xrd原理跟一般xrd一样,只是beam很小是微米级,因此可以准确研究不同区域内的晶相结构。微区xrd的x射线束斑更小些(这个通过调节狭缝可以实现)。而一般的xrd的束斑面积在几十个微米见方。微区衍射可以应用于许多衍射研究,xrd物相分析检测哪里可以做,包括以下表征:样品上具有---梯度成份的小斑点,例如,污染物、夹杂物、矿物样品、---样品、古代绘画的微小横截面、考古样本、冶金工件、工具嵌件和图案化晶片。
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x射线衍射仪(xrd)相关术语解释
sollar狭缝测角仪上一组平行薄金属片光阑,由一组平行等间距的、平面与射线源焦线垂直的金属薄片组成,用来---x射线在测角仪轴向方向的发散,使x射线束可以近似的看作仅在扫描圆平面上发散的发散束。
脉冲计数率在衍射仪方法中,x射线的强度用脉冲计数率表示,江苏xrd物相分析检测,单位为每秒脉冲数(cps)。检测器在单位时间输出的平均脉冲数,直接决定于检测器在单位时间接收的光子数。如果检测器的效率为100%,而系统(放大器和脉冲幅度分析器等)又没有计数损失(漏计),那么每秒脉冲数便是每秒光子数。
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样品成分的限定
样品元素限定是缩小检索范围的有效手段。因此,我们在进行x射线衍射物相分析之前应当先做样品的元素分析,只有这样,才能准确并且正确地检索出样品中的全部物相。
成分限定的要点是:
(1) 只选样品中的主要元素。
(2) 选择4个元素。当样品成分比较复杂,含有元素种类较多时,优先选择量多的元素,并且每次只选择不多于4个元素,否则,检索范围过大,会影响检索结果。
(3) 尝试非金属元素c,h,o。有时,样品会发生吸潮、氧化、腐蚀,xrd物相分析检测报告,在按已知元素检索不出物相时,要考虑样品是否发生这种反应。
(4) 尝试不同的元素组合。由于衍射谱受固溶、择尤取向等影响,导致衍射峰位偏离正常位置或者峰强不匹配,在很多情况下,会有一些物相检索不出来,应当试探特定元素组合的存在。
当样品中元素种类太多时,检索结果可能不准确。因此,应当反复检索几次,并对比几次的检索结果,然后才作出终的结论。
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