xrd小角度检测分析-半导体薄膜测试机构

xrd小角度检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，xrd小角度检测测试，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

由pf和go制备的复合材料，go含量分别为2wt%、10 wt%、30wt%和50wt%，分别表示为pf/g-2、pf/g-10、pf/g-30和pf/g-50。所有样品进行x射线衍射（xrd）图谱测试。实验结果纯pf在23°附近表现出宽峰，石墨烯在26°处表现出峰。通过分析石墨烯的002衍射峰，当pf的重量比增---，d002的值略有增加。pf/g-30的d002值为0.344nm，略大于天然石墨的d002（0.335nm）。其中恒流充放电测试数据表明复合电极在20ma g-1的电流密度下显示出302mah g-1的大可逆容量，在100ma g-1下显示出231mah g-2的容量。经过200次循环后，复合阳极的容量保持率几乎为99%，进一步证实了这种新型材料在储锂方面的优势。

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不同晶粒度的同一物相，rir值相差很大

rir值实际上与物相的很多结构因素有关。晶粒大小是影响rir值的关键因素。如果被测物相是纳米晶粒，也按正常的rir值进行分数计算，则计算结果可能会与实际值相差很大。一般来说，晶粒越小，衍射峰高越低，则实际rir值越小，有时只有pdf卡片上的rir值的1/10。影响rir值的另一个因素是粉末的研磨程度。研磨越久，rir值会越小。

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