xrd摇摆曲线检测费用多少-半导体薄膜测试机构

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结构精修通常分为两个步骤：先通过标准样品的测量，校正仪器精度；然后通过被测样品的峰位进行晶胞参数的修正。

仪器角度校正

选用标准硅样品，用与被测样品相同的实验条件测量标准样品的全谱。校正仪器角度误差。具有步骤为：

(1) 对标准样品的衍射谱进行物相检索、扣背景和kα2、平滑、全谱拟合后，选择菜单“---yze-theta calibration  f5”命令，在打开的对话框中单击calibrate，显示出仪器的角度补正曲线(即仪器角度误差随衍射角的变化曲线)。

(2) 单击“save curve”命令，将当前角度补正曲线保存起来。

(3) 选中“calibrate patterns on loading automatically”。这样，当被测样品的衍射图谱调入时jade自动作角度补正(仪器角度误差校正)。

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xrd测试作为常用测试之一，xrd摇摆曲线检测价格，但仍有许多同学不太了解，

jade 是分析xrd数据的常用软件之一。使用jade 进行xrd物相分析的主要环节，包括：“文件导入--扣除背底--（平滑）--检索”。

方法一：直接将需要分析的文件拖向mdi-jade的图标，即可打开。

方法二：依次--- “file -- read -- 选择要分析的文件 -- 打开”即可。

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并不是有了jade就能一定分析出是什么物相

jade是一个pdf卡片的检索程序，通过给定的条件从pdf卡片库中检索出“基本上符合条件的物相卡片”。但，这些卡片可能---不是你的样品中存在的物相，因为有些物相并没有相应的pdf卡片。这时候，jade就---为力了。这时，你多可以检索出与实际物相结构相近的卡片。