安徽xrd掠入射(gixrd)检测-半导体xrd薄膜测试

xrd掠入射（gixrd）检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要---半导体产业发展的应用技术研究，---重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

xrd图谱显示石墨样品显示出两个主要衍射峰（2θ=26.36和44.32?)， 晶格间距分别为3.38?和2.04?。对于pan硬质碳样品，还观察到两个主要的宽而---的xrd衍射峰，表明pan硬质碳具有低结晶度的无定形结构。随着炭化温度的升高，衍射峰向小角度移动。对于碳化温度为1050℃样品，xrd掠入射（gixrd）检测费用多少，在24.78和43.29处的衍射峰观察到晶格间距分别为3.59 ?和2.09?。与石墨相比，pan硬碳的衍射角较小，相应的层间距较大，层间距相较于石墨变宽，为嵌入和去除锂离子提供了宽敞的通道。将所得pan硬质碳用作锂离子电池的负极材料，其初始容量为343.5 mah g?1，与石墨电极（348.6 mah g–1）的初始容量相等，初始库仑效率比石墨电---。并且pan硬碳电极在不同电流速率下表现出优异的循环稳定性和倍率性能。

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锂电xrd检测的原理是通过x射线衍射技术来分析样品的晶体结构、物相组成和微观形貌等性质。x射线是一种高能电磁波，当其照射到样品表面时，会发生衍射现象，即x射线在样品内部被反射，xrd掠入射（gixrd）检测报告，并按照一定的规律分散到不同的方向。通过测量这些衍射光的角度和强度，可以获得样品的晶体结构、晶格常数、原子间距等信息。通过xrd检测，可以确定锂电池正负极材料、电解质、隔膜等材料的晶体结构和物相组成，从而对锂电池的性能和安全性进行评估和检测。

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