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物相分析每一种晶体都有它自己的晶面间距d，而且其中原子按照一定的方式排布着，这反映到衍射图上各种晶体的谱线有它自己特定的位置。数目和强度i。因此，只需将未知物中的衍射图中各谱线测定的角度和强度和已知样品的谱线进行比较就可以达到分析目的。
通过对材料进行x射线衍射，分析其衍射图谱，获得获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息。测定晶粒度xrd测定晶粒度是基于衍射线的宽度与材料晶粒大小有关这一现象。对于tio2纳米粉体，其主要衍射峰2θ为21.5°。 当采用铜靶作为衍射源，波长为0.154nm，衍射角的2θ为25.30°，测量获得的半高宽为0.375°，一般scherrer常数取0.89.根据scherrer公式，可以计算获得晶粒的尺寸。
此外，根据晶粒大小，还可以计算纳米粉体的比表面积。
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xrd衍射谱图上的衍射峰对应的晶面该怎么看
xrd 衍射峰一般用角度值表示，该值和微观上晶体的晶面间距是对应的，一个晶面间距对应一个特定的角度。当测试多晶，陶瓷时，因为存在晶格异常，偏大或偏小，会使衍射峰变宽。材料结晶越好，峰越窄，反之越宽。
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广角xrd和小角xrd的区别
xrd是x射线衍射仪的简称。其基本原理是:当x射线照射所测物质（晶体），algan材料xrd检测实验室，相应晶面会产生衍射强度。随着发射x射线的转轴移动，不同角度的不同晶面会被完全扫描出来。从而根据布拉格方程2d sinθ=nλ，呈现出图谱。广角xrd一般指3°~80°，江苏algan材料xrd检测，甚至是更高的度数，一般用来判断某种材料的物相，即是什么物质。而小角xrd一般是指0°~3°的测试范围，在该范围内对应的晶面一般是层间，即（00x）晶面，一般用来比较改性物质前后该晶面的层间距变化。
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