xrd晶粒尺寸检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要---半导体产业发展的应用技术研究,---重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
电子衍射和 xrd的区别
电子衍射是二维衍射和 xrd 是一维衍射,辽宁xrd晶粒尺寸检测,电子衍射和xrd的基本原理和衍射花样的几何特征相似,而且都遵循劳厄方程或布拉格方程。两者区别包括:
(1) 电子波的波长短,则受物质散射强(原子对电子的散射能比 x 射线强一万倍);
(2) 电子衍射强度大,要考虑它们之间的相互作用,使电子衍射花样分析,---是强度分析变得复杂,不能像 x射线一样从测量强度来广泛地测定晶体结构;
(3) 由于电子衍射强度高导---子穿透能力有限,因此较使用于研究微晶、表面和薄膜晶体;
(4) 当晶粒大小只有几微米,甚至几千埃的时候,不建议用 xrd 。
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x射线衍射仪的使用方法
(a)装填样品
按下衍射仪面板上的door按钮,指示灯闪烁、蜂鸣器发出报警声,xrd晶粒尺寸检测费用多少,缓慢的向右拉开衍射仪保护门。
将样品表面朝上安装到样品台上,此时注意尽可能的将样品置于载物台的中心位置。
向左轻拉右侧门,两门自动吸住后报警声停止。
(b)设置仪器参数
---桌面right measurement system图标,进入到软件控制界面
双击condition下面的1,进入到测量条件的设置界面,根据所测试样品要求,设置start angle(起始角)、stop angle(终止角)、scan speed(扫描速度)等参数(注意:一般扫描电压和扫描电流这些参数不要更改)
条件设置好以后,关闭条件设置界面,返回主界面(注意:在设置参数的时候,xrd的起始角一般是大于3°,xrd晶粒尺寸检测多少钱,终止角小于140°,否则会使测角仪的旋转臂撞到其他部件,使测角仪受到损坏。)
---browse按钮,进入到保存文件对话框,设置文件保存位置和样品名称后,返回主界面
(c)开始测试
在主界面上---executement,系统开始调整kv、ma值,此时弹出新的测量窗口,直到测量完成,测量数据自动保存在所设置为保存位置。
(d)数据存盘
一般为了防止u盘存在---,拷取实验数据需要光盘,下面是一个光盘流程
(e)关闭系统
在测试的时候根据实际情况,如果后面仍有学需要测试,在完成自己样品测试后,将自己的样品取出即可。如果没有人测试,则按照下面的流程来关闭x射线
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使用pffbb-n作为供主材料并且pc71 bm作为受主材料的太阳能电池使用ito/zno/pffbb-n的反向器件结构制造:pc71 bm(1:2 w/w)/moo3/al。图4使用3%cn作为溶剂添加剂在60,80和100℃下制造的bhj pscs,xrd晶粒尺寸检测,并测量其电流密度-电压曲线和它们各自的光伏特性。
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